产品详情
简单介绍：
表面粗糙度测量
可以在一次测量中分析不同标准的参数，从而可以平稳过渡到新标准。
轮廓形状测量
X轴上的*大测量采样点数量为64,000点，使得高分辨率的长距离测量成为可能。
详情介绍：
表面粗糙度
| 测定范囲/分解能 | Z：600μm/0.08nm |
|---|---|
| 进给速度 | 0.02～10毫米/秒 |
| 测针 | R2μm 0.75mN以下 |
轮廓形状
| 测定精度 |
Z：±0.25％（弊社规格） X：±（1+0.02L)μm以下 L：测定长さ（mm） |
|---|---|
| 测量范围 | Z：50mm X：100mm |
| 测针 | R25μm 10～30mN |
株式会社小坂研究所是精密测量仪器和其他工业设备的制造商和开发商。
公司成立于 1950 年，70 年来一直致力于精密测量仪器、工业泵和食品包装机械三个领域的设备开发和制造，
以满足各种需求，其技术能力不亚于大型制造商。
从能源领域到普通家庭使用的消费品，该公司开发了多种独特的制造产品，并凭借长期积累的专有技术与许多大公司建立了业务往来。