产品详情
简单介绍：
位移检测器中的数字传感器可在一次扫描中同时测量 "轮廓剖面 "和 "表面粗糙度"。
标配更先进的分析功能、高原表面分析软件和接触点过滤器。
标配检测器过载停止功能。
详情介绍：
| Z分解能/测定范囲 | 0.75nm/±6mm |
|---|---|
| Z検出方式 | 半导体激光秤 |
| 测针 | R2μm 0.7mN |
| 解析项目 |
形状分析（元素、标量、统计、主比较、公差确定） 表面粗糙度（JIS、ISO、DIN、ANSI、BS） 表面波纹度 (JIS) |
株式会社小坂研究所是精密测量仪器和其他工业设备的制造商和开发商。
公司成立于 1950 年，70 年来一直致力于精密测量仪器、工业泵和食品包装机械三个领域的设备开发和制造，
以满足各种需求，其技术能力不亚于大型制造商。
从能源领域到普通家庭使用的消费品，该公司开发了多种独特的制造产品，并凭借长期积累的专有技术与许多大公司建立了业务往来。